臺式X熒光光譜儀非真空能量色散X熒光光譜儀體積小、穩定性好、分析快速準確、運行成本低、操作維護方便、是控制產(chǎn)品質(zhì)量的理想選擇?？蓽y定S（16）至U（92）之間的任意元素。應用范圍非常廣泛，可用于RoHS、合金、貴金屬、土壤重金屬、廢液重金屬、中心實(shí)驗室成品檢驗等領(lǐng)域 。
臺式X熒光光譜儀非真空能量色散X熒光光譜儀體積小、穩定性好、分析快速準確、運行成本低、操作維護方便、是控制產(chǎn)品質(zhì)量的理想選擇?？蓽y定S（16）至U（92）之間的任意元素。應用范圍非常廣泛，可用于RoHS、合金、貴金屬、土壤重金屬、廢液重金屬、中心實(shí)驗室成品檢驗等領(lǐng)域 。
臺式X熒光光譜儀非真空能量色散X熒光光譜儀：
EDX-6000X熒光光譜儀融合經(jīng)驗系數法、基本參數法（FP法）等分析方法，測試數據的準確性能得到全面保證。
EDX-6000X熒光光譜儀經(jīng)驗系數法：儀器依據對標準樣品的測定，確定影響系數。對標準樣品要求高，需和待測樣品類(lèi)型相近，校正模型簡(jiǎn)單。
EDX-6000X熒光光譜儀基本參數法（FP法）：儀器根據實(shí)際檢測物質(zhì)，通過(guò)對多種物理量建模計算確定參數。對標準樣品要求不高，計算較復雜，適合缺少對應標樣的物質(zhì)檢測。
軟件功能
元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%
采用BG內標校正，提高非定性式樣測量精度
用戶(hù)自定義多曲線(xiàn)多光譜擬和分析方法
全自動(dòng)定量分析報告 簡(jiǎn)捷準確
自適應初試化校正
光譜的自動(dòng)獲取和顯示。
具有自動(dòng)檢測儀器工作狀態(tài)的功能。
自動(dòng)判別樣品及自動(dòng)分析。提供擴展接口，進(jìn)一步作其他元素分析，從鈣到鈾元素。
硬件
美國進(jìn)口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統
美國SPELLMAN高壓發(fā)生器
美國進(jìn)口前置放大器，與美國進(jìn)口探測器兼容性好
美國進(jìn)口主放大器，與美國進(jìn)口探測器兼容性好
美國進(jìn)口A(yíng)D轉換模塊，與美國進(jìn)口探測器兼容性好
尺寸＆重量
550（W）×450(D)×450(H)mm
60Kg（主機部分）
電源與環(huán)境要求
電源：220V±10％ 50Hz
環(huán)境溫度：10℃-28℃
環(huán)境濕度: ≤70 ％RH(25℃室溫)
臺式X熒光光譜儀非真空能量色散X熒光光譜儀：
無(wú)損檢測
在無(wú)標準樣品時(shí)亦可準確分析
測量時(shí)間比化學(xué)方法短，不需要輔助材料
計算機進(jìn)行數據處理，分析快速準確
高分辨率圖形即時(shí)顯示，由不同色塊加以判斷區分
硅半導體探測器
元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%
采用BG內標校正，提高非定性式樣測量精度
全自動(dòng)定量分析報告 簡(jiǎn)捷準確
自適應初試化校正
光譜的自動(dòng)獲取和顯示
具有自動(dòng)檢測儀器工作狀態(tài)的功能
自動(dòng)判別樣品及自動(dòng)分析
