X熒光光譜儀是一種常見(jiàn)的光譜儀器，常用于實(shí)驗室檢測元素，那么我們在使用X熒光光譜儀分析時(shí)，也會(huì )出現干擾譜線(xiàn)的來(lái)源因素，今天創(chuàng )想小編就給大家歸納一下。

X射線(xiàn)管：

靶材本身：干擾線(xiàn)可能來(lái)自靶元素及有關(guān)雜質(zhì)的發(fā)射線(xiàn)。

長(cháng)期使用影響：長(cháng)期使用中，燈絲及其他有關(guān)構件的升華噴濺或其他原因，可能導致靶面或管窗的玷污，從而產(chǎn)生干擾線(xiàn)。

激發(fā)源問(wèn)題：X射線(xiàn)管構件受激發(fā)或陰極電子束的不適當聚焦，也可能產(chǎn)生干擾線(xiàn)。

樣品：

樣品中其他元素發(fā)射的干擾線(xiàn)，尤其是強度較大的圖表線(xiàn)，可能會(huì )對分析線(xiàn)或參比線(xiàn)造成干擾。

元素間干擾或基體效應：

某些元素之間可能存在元素間干擾或基體效應，這些會(huì )影響X射線(xiàn)熒光光譜儀的分析結果。

譜線(xiàn)重疊：

在X射線(xiàn)熒光光譜儀的分析中，有些元素可能會(huì )有全部或部分譜線(xiàn)重疊，這也會(huì )帶來(lái)干擾。

康普頓線(xiàn)：

來(lái)自康普頓線(xiàn)或X射線(xiàn)管中目標產(chǎn)生的特征線(xiàn)也是可能的干擾來(lái)源。

金相組織的誤差：

由于分析目標元素的密度受樣品的質(zhì)量吸收系數的影響，且數學(xué)模型假設為均質(zhì)物質(zhì)，因此金相組織的誤差也可能帶來(lái)干擾。

固體進(jìn)樣的性質(zhì)和樣品與標準樣品表面性質(zhì)的差異：

分析偏差可能由固體進(jìn)樣的性質(zhì)和樣品與標準樣品表面性質(zhì)的差異造成，這同樣會(huì )影響分析結果的準確性。

為了消除或減輕這些干擾譜線(xiàn)的影響，操作人員可以采取一系列措施，如更換適當靶材的X射線(xiàn)管、選擇適當的分析晶體、使用濾光片、優(yōu)化探測和測量系統的工作條件等。

創(chuàng )想臺式X熒光光譜儀